2021 Copyright ©
Facultatea de Ştiinţa şi Ingineria Materialelor
Adresa: Strada Prof.dr.doc. D. Mangeron nr. 41, Iași, 700050
E-mail: nicanor.cimpoesu@academic.tuiasi.ro
Telefon: +40 742 023 566
Microscop de forță atomică (AFM)
Atomic Force Microscopy (AFM) stăpânește imagistica topografică, spectroscopia forței și litografia în modul Static Force - funcțiile fundamentale pentru măsurarea și modificarea suprafeței. Permite manevrarea și poziționarea ușoară și are capacitatea de măsurare pe aproape orice dimensiune și geometrie a probei.
Analize:
Rugozitatea suprafeței, forțele interatomice, duritatea și buclele de feedback, integrarea la scară largă, coroziunea, tensiunea superficială și limitele opticii.
Microscop metalografic cu masă inversată trinocular ISM-M1000 Namicon+Cameră MotiCam specializată în analiză microscopică (OM)
Obiective 10x, 20x, 40x, 60x
Obiectiv umed 100x
Analize:
Analiza microstructurii materialelor metalice
Analizor de grăunți și orientarea acestora (EBSD)
Software Esprit 2.1, sistem Quantax – Bruker
Editor de faze integrat incluzând modul de vizualizare a structurilor cristalografice: suporta unitati asimetrice, suporta toate simetriile cristaline, generare de pozitii atomice in functie de grupurile spatiale cristalografice, afisare 3D a structurii cristaline si a celulei de baza. Produce harti de faze, IPF (inverse pole figures), harti Euler. Detecție grăunți după criterii legate de orientare și dimensiuni, analiza de grăunți, distribuție dimensională grăunți.
Analizor de compoziție chimică (EDS)
Detector X-flash, software Esprit 2.1, sistem Quantax – Bruker
Analiza chimică a materialelor metalice și nemetalice pe suprafețe macro și micro. Analiza distribuției elementale pe o suprafață sau pe o linie. Analiza chimică în modul Automatic sau condusa de lista (Element List). Analiza chimică în punct (pe o suprafață de 0.05 µm), stabilirea energiilor razelor X caracteristice.
Microscop electronic de baleiaj (SEM)
Putere de amplificare 60000x, detector de electroni secundari (SE), vid înaintat, filament de tungsten, carusel 7 probe (dimensiuni standard 10x10x45 mm), software VegaTescan, software Alicona-analiză 3D.
Probe analizate:
Toate tipurile de materiale metalice şlefuite mecanic sau nu, materiale ceramice şi polimerice (cu recomandarea folosirii unui strat superficial metalic), materiale compozite, materiale textile, materiale biologice, filme subţiri.
Analize:
Microstructură, starea suprafeţei, straturi subţiri, dimensionare, analiza profilometrică prin variaţia intensităţii luminoase, analiză 3D a suprafeţei, identificare faze prin Binary operations, Split RGB, Colomapping, creare imagini stereotip, creare imagini 3D, compoziție chimică.
ECHIPAMENTE
